Разработка и исследование методов прогнозирования отказов полупроводниковых диодов с использованием электрофизических параметров: автореферат диссертации на соискание ученой степе...

по Егоров, Л. П. Леонид Петрович
Публикация 1975

Надежность оптоэлектронных полупроводниковых приборов/

по Воротинский, В. А. Владимир Александрович, Дадерко, Н.К, Егоров, Л. П.
Публикация 1983