Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведен...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Дракин А. Ю.
Other Authors: Зотин В. Ф., Потапов Л. А.
Format: Book
Language:Russian
Published: Санкт-Петербург Лань 2021
Edition:2-е изд., стер.
Subjects:
Online Access:https://e.lanbook.com/book/180818
https://e.lanbook.com/img/cover/book/180818.jpg
LEADER 02903nam0a2200349 i 4500
001 lan180818
003 RuSpLAN
005 20221220174134.0
008 221220s2021 ru gs 000 0 rus
020 |a 978-5-8114-8773-8 
040 |a RuSpLAN 
041 0 |a rus 
044 |a ru 
080 |a 32.85я73 
084 |a 621.3.049.77  |2 rubbk 
245 0 0 |a Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов  |c Дракин А. Ю.,Зотин В. Ф.,Потапов Л. А. 
250 |a 2-е изд., стер. 
260 |a Санкт-Петербург  |b Лань  |c 2021 
300 |a 284 с. 
504 |a Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань 
520 8 |a В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров. Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам, обучающимся по направлениям «Радиотехника», «Инфокоммуникационные технологии и системы связи», «Конструирование и технология электронных средств», «Электроника и наноэлектроника», «Электроэнергетика и электротехника» (уровень магистратура), аспирантам направлений «Электроника, радиотехника и системы связи», «Электро- и теплотехника». 
521 8 |a Книга из коллекции Лань - Инженерно-технические науки 
653 0 |a аналоговые микросхемы 
653 0 |a силовые диоды 
653 0 |a транзисторы 
653 0 |a тестер 
100 1 |a Дракин А. Ю. 
700 1 |a Зотин В. Ф. 
700 1 |a Потапов Л. А. 
856 4 |u https://e.lanbook.com/book/180818 
856 4 8 |u https://e.lanbook.com/img/cover/book/180818.jpg 
910 |a ЭБС Лань