Радиационные методы контроля. Рентгеновская дифрактометрия учебное пособие
В пособии рассмотрены источники рентгеновского излучения, взаимодействие рентгеновского излучения с веществом, основы дифракционного эксперимента. Включает разделы: элементы кристаллографии; количественный рентгено-фазовый анализ; прецизионное определение параметров решетки; дифракционный анализ как...
| Главный автор: | Суржиков, А. П. физик профессор Томского политехнического университета, доктор физико-математических наук 1951- |
|---|---|
| Другие авторы: | Притулов специалист в области электротехники ведущий научный сотрудник Томского политехнического университета, Васендина специалист в области электротехники доцент Томского политехнического университета, инженер, кандидат технических наук |
| Формат: | Книга |
| Язык: | Russian |
| Публикация: |
Томск
Изд-во ТПУ
2014
|
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | Перейти в каталог НТБ ТПУ |
Похожие документы
-
Рентгеновская дифрактометрия
по: Хейкер, Даниэль Моисеевич
Публикация: (1963) -
Рентгеновская дифрактометрия [учебное пособие по курсам "Методы исследования структуры веществ", "Молекулярная физика", "Физика диэлектриков и полупроводников", "Материаловедение" для студентов специальности Н 02.01.00 -Физика, Н 02.02.00 - Радиофизика, Т 03.02.00 - Технология и оборудование высокоэффективных процессов обработки материалов, Т 06.01.00 - Приборостроение]
по: Лиопо, Валерий Александрович
Публикация: (2000) -
Радиационные методы контроля. Рентгеновская дифрактометрия учебное пособие
по: Суржиков, А. П. физик профессор Томского политехнического университета, доктор физико-математических наук 1951-
Публикация: (2014) -
Введение в рентгенографию. Рентгеновские лучи и их взаимодействие с веществом учебное пособие
по: Зыман, Золтан Золтанович
Публикация: (2013) -
Рентгеновская дифрактометрия/
по: Хейкер, Д. М. Даниэль Моисеевич, et al.
Публикация: (1963)
