Методы измерения микротвердости и трещиностойкости наноструктурных керамик учебное пособие

В пособии изложены: универсальный метод измерения твёрдости и микротвёрдости, метод индентирования алмазной пирамидой Виккерса; условия нанесения отпечатков, ошибки, допускаемые при измерениях; расчёты значений твёрдости и микротвёрдости; применение метода индентирования для определения коэффициента...

Full description

Bibliographic Details
Other Authors: Хасанов российский ученый-физик, специалист в области наноматериалов профессор Томского политехнического университета, доктор технических наук директор Нано-Центра ТПУ, заведующий кафедрой наноматериалов и нанотехнологий, Струц специалист в области неразрушающего контроля старший научный сотрудник Томского политехнического университета, кандидат физико-математических наук, Соколов старший научный сотрудник Томского политехнического университета, кандидат технических наук, Полисадова российский ученый, специалист в области нанокерамики старший научный сотрудник Томского политехнического университета, кандидат технических наук, Двилис химик-технолог старший научный сотрудник Томского политехнического университета, профессор, доктор физико-математических наук, Бикбаева российский ученый, специалист в области нанокерамики старший научный сотрудник Томского политехнического университета, кандидат физико-математических наук
Format: Book
Language:Russian
Published: Томск Изд-во ТПУ 2011
Subjects:
Online Access:Перейти в каталог НТБ ТПУ
LEADER 05171nam a2200421 4500
001 libtpu00211665
008 120316s2011 ru a k 0001 m rus
035 0 0 |a (RuTPU)RUTPUbook231235 
040 |a RU  |b rus  |c RU  |d Ru-TPU 
040 |a RU  |c RU  |d Ru-TPU 
080 |a 666.3(075.8) 
080 |a 620.178.1(075.8) 
245 1 0 |a Методы измерения микротвердости и трещиностойкости наноструктурных керамик  |b учебное пособие  |c О. Л. Хасанов [и др.] 
260 |a Томск  |b Изд-во ТПУ  |c 2011 
300 |a 101 с.  |b ил. 
504 |a Библиогр.: с. 95-100. 
520 |a В пособии изложены: универсальный метод измерения твёрдости и микротвёрдости, метод индентирования алмазной пирамидой Виккерса; условия нанесения отпечатков, ошибки, допускаемые при измерениях; расчёты значений твёрдости и микротвёрдости; применение метода индентирования для определения коэффициента вязкости разрушения. Приведены экспериментальные результаты авторов по определению микротвёрдости и трещиностойкости наноструктурных керамик, а также распространению трещин в этих керамиках. Рассмотрен метод наноиндентирования, позволяющий получать информацию о физических величинах, таких как коэффициент трения, модули упругости, износостойкость и адгезионная прочность наноструктурных покрытий, содержащих фуллерены покрытий. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению "Материаловедение, наноматериалы и нанотехнологии". 
650 1 0 |a Керамические материалы  |x Физико-химические исследования 
650 1 0 |a Материалы  |x Испытание на микротвердость 
653 |a наноструктурная керамика 
653 |a твердость 
653 |a шкала Мооса 
653 |a расчеты 
653 |a измерение 
653 |a наноиндентирование 
653 |a твердые тела 
653 |a субмикрообъемы 
653 |a приповерхностные слои 
653 |a трещиностойкость 
653 |a учебные пособия 
653 |a труды учёных ТПУ 
700 1 |a Хасанов  |c российский ученый-физик, специалист в области наноматериалов  |c профессор Томского политехнического университета, доктор технических наук  |c директор Нано-Центра ТПУ, заведующий кафедрой наноматериалов и нанотехнологий  |g Олег Леонидович 
700 1 |a Струц  |c специалист в области неразрушающего контроля  |c старший научный сотрудник Томского политехнического университета, кандидат физико-математических наук  |g Василий Кузьмич 
700 1 |a Соколов  |c старший научный сотрудник Томского политехнического университета, кандидат технических наук  |g Виталий Михайлович 
700 1 |a Полисадова  |c российский ученый, специалист в области нанокерамики  |c старший научный сотрудник Томского политехнического университета, кандидат технических наук  |g Валентина Валентиновна 
700 1 |a Двилис  |c химик-технолог  |c старший научный сотрудник Томского политехнического университета, профессор, доктор физико-математических наук  |g Эдгар Сергеевич 
700 1 |a Бикбаева  |c российский ученый, специалист в области нанокерамики  |c старший научный сотрудник Томского политехнического университета, кандидат физико-математических наук  |g Зульфа Гадильзановна 
856 |y Перейти в каталог НТБ ТПУ  |u https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=211665