APA (7th ed.) Citation

Суржиков, А. П. ф. п. Т. п. у., Притулов российский учёный в области электроники, д. и. п. в. н. с. Т. п. у., & Васендина специалист в области электротехники доцент Томского политехнического университета, и. (2014). Радиационные методы контроля. Рентгеновская дифрактометрия: учебное пособие. Изд-во ТПУ.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Суржиков, А. П. физик профессор Томского политехнического университета, диэлектриков и полупроводников ведущий научный сотрудник Томского политехнического университета Притулов российский учёный в области электроники, and инженер Васендина специалист в области электротехники доцент Томского политехнического университета. Радиационные методы контроля. Рентгеновская дифрактометрия: учебное пособие. Томск: Изд-во ТПУ, 2014.

MLA (8th ed.) Citation

Суржиков, А. П. физик профессор Томского политехнического университета, et al. Радиационные методы контроля. Рентгеновская дифрактометрия: учебное пособие. Изд-во ТПУ, 2014.