Радиационные методы контроля. Рентгеновская дифрактометрия учебное пособие

Библиографическая информация
Главный автор: Суржиков, А. П. физик профессор Томского политехнического университета, доктор физико-математических наук 1951-
Другие авторы: Притулов российский учёный в области электроники, диэлектриков и полупроводников ведущий научный сотрудник Томского политехнического университета, Васендина специалист в области электротехники доцент Томского политехнического университета, инженер, кандидат технических наук
Формат: Книга
Язык:Russian
Публикация: Томск Изд-во ТПУ 2014
Предметы:
Online-ссылка:http://www.lib.tpu.ru/fulltext2/m/2014/m242.pdf
LEADER 02008nlm a2200289 4500
001 libtpu00267448
008 140729s2014 ru a k 0001 m rus
035 0 0 |a (RuTPU)RUTPUbook290505 
040 |a RU  |b rus  |c RU  |d Ru-TPU 
040 |a RU  |c RU  |d Ru-TPU 
080 |a 543.54(075.8) 
100 1 |a Суржиков, А. П.  |c физик  |c профессор Томского политехнического университета, доктор физико-математических наук  |d 1951- 
245 1 0 |a Радиационные методы контроля. Рентгеновская дифрактометрия  |b учебное пособие  |c А. П. Суржиков, А. М. Притулов, Е. А. Васендина 
260 |a Томск  |b Изд-во ТПУ  |c 2014 
500 |a Заглавие с титульного экрана 
650 1 0 |a Рентгенофазовый анализ 
653 |a электронный ресурс 
653 |a учебные пособия 
653 |a труды учёных ТПУ 
653 |a рентгеновское излучение 
653 |a дифракционные элементы 
653 |a кристаллография 
653 |a рентгеновский анализ 
653 |a дифракционный анализ 
700 1 |a Притулов  |c российский учёный в области электроники, диэлектриков и полупроводников  |c ведущий научный сотрудник Томского политехнического университета  |g Александр Михайлович 
700 1 |a Васендина  |c специалист в области электротехники  |c доцент Томского политехнического университета, инженер, кандидат технических наук  |g Елена Александровна 
856 4 |u http://www.lib.tpu.ru/fulltext2/m/2014/m242.pdf