Радиационные методы контроля. Рентгеновская дифрактометрия учебное пособие
| Главный автор: | Суржиков, А. П. физик профессор Томского политехнического университета, доктор физико-математических наук 1951- |
|---|---|
| Другие авторы: | Притулов российский учёный в области электроники, диэлектриков и полупроводников ведущий научный сотрудник Томского политехнического университета, Васендина специалист в области электротехники доцент Томского политехнического университета, инженер, кандидат технических наук |
| Формат: | Книга |
| Язык: | Russian |
| Публикация: |
Томск
Изд-во ТПУ
2014
|
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | http://www.lib.tpu.ru/fulltext2/m/2014/m242.pdf |
Похожие документы
-
Радиационные методы контроля. Рентгеновская дифрактометрия учебное пособие
по: Суржиков, А. П. физик профессор Томского политехнического университета, доктор физико-математических наук 1951-
Публикация: (2014) -
Рентгеновская дифрактометрия [учебное пособие по курсам "Методы исследования структуры веществ", "Молекулярная физика", "Физика диэлектриков и полупроводников", "Материаловедение" для студентов специальности Н 02.01.00 -Физика, Н 02.02.00 - Радиофизика, Т 03.02.00 - Технология и оборудование высокоэффективных процессов обработки материалов, Т 06.01.00 - Приборостроение]
по: Лиопо, Валерий Александрович
Публикация: (2000) -
Основы структурного анализа химических соединений [Учебное пособие для химических специальностей университетов]
по: Порай-Кошиц, Михаил Александрович 1918-1994
Публикация: (1989) -
Основы рентгенофазового анализа методические указания
Публикация: (2006) -
Рентгеновская дифрактометрия
по: Хейкер, Даниэль Моисеевич
Публикация: (1963)
