Skip to content
  • Language
    • English
    • Русский

Advanced
  • Радиационные методы контроля....
  • Cite this
  • Print
  • Export Record
    • Export to RefWorks
    • Export to EndNoteWeb
    • Export to EndNote
  • Permanent link
Радиационные методы контроля. Рентгеновская дифрактометрия учебное пособие

Радиационные методы контроля. Рентгеновская дифрактометрия учебное пособие

Show other versions (1)
Bibliographic Details
Main Author: Суржиков, А. П. физик профессор Томского политехнического университета, доктор физико-математических наук 1951-
Other Authors: Притулов российский учёный в области электроники, диэлектриков и полупроводников ведущий научный сотрудник Томского политехнического университета, Васендина специалист в области электротехники доцент Томского политехнического университета, инженер, кандидат технических наук
Format: Book
Language:Russian
Published: Томск Изд-во ТПУ 2014
Subjects:
Рентгенофазовый анализ
электронный ресурс
учебные пособия
труды учёных ТПУ
рентгеновское излучение
дифракционные элементы
кристаллография
рентгеновский анализ
дифракционный анализ
Online Access:http://www.lib.tpu.ru/fulltext2/m/2014/m242.pdf
  • Holdings
  • Description
  • Other Versions (1)
  • Similar Items
  • Staff View
Showing 1 - 1 results of 1
Show all versions (2)
Search Result 1
Радиационные методы контроля. Рентгеновская дифрактометрия учебное пособие
Радиационные методы контроля. Рентгеновская дифрактометрия учебное пособие
by Суржиков, А. П. физик профессор Томского политехнического университета, доктор физико-математических наук 1951-
Published 2014
Call Number: Loading...
Located: Loading...
Перейти в каталог НТБ ТПУ
Book
Show all versions (2)

Similar Items

  • Радиационные методы контроля. Рентгеновская дифрактометрия учебное пособие
    by: Суржиков, А. П. физик профессор Томского политехнического университета, доктор физико-математических наук 1951-
    Published: (2014)
  • Рентгеновская дифрактометрия [учебное пособие по курсам "Методы исследования структуры веществ", "Молекулярная физика", "Физика диэлектриков и полупроводников", "Материаловедение" для студентов специальности Н 02.01.00 -Физика, Н 02.02.00 - Радиофизика, Т 03.02.00 - Технология и оборудование высокоэффективных процессов обработки материалов, Т 06.01.00 - Приборостроение]
    by: Лиопо, Валерий Александрович
    Published: (2000)
  • Основы структурного анализа химических соединений [Учебное пособие для химических специальностей университетов]
    by: Порай-Кошиц, Михаил Александрович 1918-1994
    Published: (1989)
  • Основы рентгенофазового анализа методические указания
    Published: (2006)
  • Рентгеновская дифрактометрия
    by: Хейкер, Даниэль Моисеевич
    Published: (1963)
|   Advanced Search   |   Search Tips   |

Большой университет Томска
https://university-tomsk.ru/
Loading...