Основы анализа поверхности твердых тел методами атомной физики. Часть 1 электронный курс

Целью изучения дисциплины является подготовка специалиста, обладающего знаниями современного состояния теоретических основ и техники для исследования элементного, химического состава и структуры поверхности твердых тел. На базе полученных знаний, специалист должен уметь осуществить правильный выбор...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Никитенков, Н. Н. российский физик профессор Томского политехнического университета, доктор физико-математических наук 1953-
Other Authors: Сыпченко физик доцент Томского политехнического университета, кандидат наук
Format: Book
Language:Russian
Published: Томск TPU Moodle 2018
Subjects:
Online Access:https://design.lms.tpu.ru/course/view.php?id=1798
LEADER 03921nlm a2200361 4500
001 libtpu00666839
008 220131s2018 ru a k 0000 m rus
035 0 0 |a (RuTPU)RUTPUnetwork38043 
035 0 0 |a RUTPUnetwork26414 
040 |a RU  |b rus  |c RU  |d Ru-TPU 
080 |a 539.211(075.8) 
100 1 |a Никитенков, Н. Н.  |c российский физик  |c профессор Томского политехнического университета, доктор физико-математических наук  |d 1953- 
245 1 0 |a Основы анализа поверхности твердых тел методами атомной физики. Часть 1  |b электронный курс  |c Н. Н. Никитенков, В. С. Сыпченко 
260 |a Томск  |b TPU Moodle  |c 2018 
500 |a Заглавие с экрана 
520 |a Целью изучения дисциплины является подготовка специалиста, обладающего знаниями современного состояния теоретических основ и техники для исследования элементного, химического состава и структуры поверхности твердых тел. На базе полученных знаний, специалист должен уметь осуществить правильный выбор методов анализа, необходимой для решения конкретной аналитической задачи. Курс предназначен дать представление о физических процессах, лежащих в основе методов анализа приповерхностной области материалов: образование вакансий на внутренних оболочках электронной структуры (рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия) и переходы между энергетическими уровнями (электронный микроанализ и электронная оже-спектроскопия); распыление образца ионами, искровым разрядом, лазерным излучением (электронная и фотонная спектроскопия и энерго- и масс спектрометрия вторичных ионов и нейтральных частиц); электрон-электронные взаимодействия и пробеги электронов в твердом теле (спектроскопия электронных потерь энергии); дифракция электронов и рентгеновских лучей (дифракция электронов низких энергий и дифракция рентгеновских лучей) и т.д.; 
650 1 0 |a Поверхности твердых тел  |x Исследование 
653 |a электронный ресурс 
653 |a труды учёных ТПУ 
653 |a электронные учебные пособия 
653 |a учебные пособия 
653 |a Moodle 
653 |a e-learning 
653 |a теоретические основы 
653 |a спектроскопия 
653 |a вакуум 
653 |a поверхность 
653 |a тонкие пленки 
653 |a изотопный состав 
653 |a химический состав 
653 |a структурный состав 
700 1 |a Сыпченко  |c физик  |c доцент Томского политехнического университета, кандидат наук  |g Владимир Сергеевич 
856 4 |u https://design.lms.tpu.ru/course/view.php?id=1798