| Summary: | Курс Зондовые методы диагностики структуры и свойств наноматериалов посвящен изучение физических основ сканирующей зондовой микроскопии. Рассмотрены наиболее применяемые виды СЗМ, такие как сканирующая туннельная микроскопия (СТМ), атомно-силовая микроскопия (АСМ), электросиловая микроскопия (ЭСМ), магнитно-силовая микроскопия (МСМ), ближнепольная оптическая микроскопия (БОМ). Особое внимание уделяется изучению устройства сканирующего зондового микроскопа и основным методикам работы на нем. Знания, полученные при изучении курса, позволят студентам, специализирующимся в области материаловедения, оценивать морфологию поверхности и свойства исследуемых образцов, а также модифицировать поверхность для получения заданных свойств.
|
|---|
