Экспериментальные методы в исследовании конденсированного состояния (03.03.02) электронный курс

В курсе рассматриваются теоретические основы использования лабораторных методов анализа структуры материала на разных масштабных уровнях. Особое внимание уделяется современным тенденциям развития аналитических методов и получению практических навыков работы....

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Панин, А. В. физик профессор Томского политехнического университета, доктор физико-математических наук 1971-
Format: Book
Language:Russian
Published: Томск TPU Moodle 2024
Subjects:
Online Access:https://design.lms.tpu.ru/course/view.php?id=5128
LEADER 02593nlm a2200409 4500
001 libtpu00675265
008 241008s2024 ru a k 0000 rus
040 |a RU  |b rus  |c RU  |d Ru-TPU 
080 |a 538.9(075.8) 
100 1 |a Панин, А. В.  |c физик  |c профессор Томского политехнического университета, доктор физико-математических наук  |d 1971- 
245 1 0 |a Экспериментальные методы в исследовании конденсированного состояния (03.03.02)  |b электронный курс  |c А. В. Панин 
260 |a Томск  |b TPU Moodle  |c 2024 
500 |a Заглавие с экрана 
520 |a В курсе рассматриваются теоретические основы использования лабораторных методов анализа структуры материала на разных масштабных уровнях. Особое внимание уделяется современным тенденциям развития аналитических методов и получению практических навыков работы. 
650 1 0 |a Физика конденсированного состояния 
653 |a электронный ресурс 
653 |a труды учёных ТПУ 
653 |a электронное обучение 
653 |a кампусные онлайн-курсы 
653 |a дистанционное образование 
653 |a дистанционное обучение 
653 |a e-learning 
653 |a Moodle 
653 |a твердые тела 
653 |a элементарные частицы 
653 |a просвечивающая электронная микроскопия 
653 |a дифракция электронов 
653 |a рентгеноструктурный анализ 
653 |a масс-спектроскопия 
653 |a вторичные электроны 
653 |a ультразвуковая дефектоскопия 
653 |a синхротронное излучение 
653 |a сканирующая зондовая микроскопия 
653 |a фракталы 
653 |a сканирующая электронная микроскопия 
653 |a оптическая микроскопия 
856 4 |u https://design.lms.tpu.ru/course/view.php?id=5128  |z https://design.lms.tpu.ru/course/view.php?id=5128