Physical nature of size effects in TiAlNiAu/GaN ohmic contacts to AlGaN/GaN heteroepitaxial structures
The size effect observed in TiAlNiAu/GaN ohmic contacts (OCs) makes itself evident in the dependence of their relative electrical characteristics R (SH) , R (SK) , rho and geometrical parameter L (T) on the LTLM test line width W-k . The paper explores the geometry of relief (topography) irregularit...
| Опубликовано в: : | Semiconductor science and technology Vol. 37, № 5. P. 055023 |
|---|---|
| Другие авторы: | Torkhov, Nikolay A., Gradoboev, Alexandr V., Orlova, K. N., Toropov, A. S. |
| Формат: | Статья в журнале |
| Язык: | English |
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001003553 |
Похожие документы
- Многослойные гетероструктуры AIN/AlGaN/GaN/AlGaN с квантовыми ямами для мощных полевых СВЧ-транзисторов
-
Кинетика фотолюминесценции двумерного электронного газа в гетероструктуре GaN/AlGaN
по: Коржавина, Н. С. - Влияние блокирующего слоя AlGaN на люминесцентные характеристики светодиодных гетероструктур InGaN/GaN
-
Самосогласованный расчет туннельного тока в нитридных структурах GaN/AlGaN(0001)
по: Разжувалов, Александр Николаевич -
Модель гистерезиса туннельного тока в двухбарьерных гетероструктурах w- GaN/AlGaN(0001)
по: Разжувалов, Александр Николаевич
