|
|
|
|
| LEADER |
01870naa a2200301 c 4500 |
| 001 |
koha001004056 |
| 005 |
20241212180512.0 |
| 007 |
cr | |
| 008 |
230627s2022 ru fs 100 0 rus d |
| 035 |
|
|
|a koha001004056
|
| 040 |
|
|
|a RU-ToGU
|b rus
|c RU-ToGU
|
| 100 |
1 |
|
|a Кукенов, Олжас Игоревич
|
| 245 |
1 |
0 |
|a Особенности осцилляций интенсивности дифракционных картин при эпитаксии Si/Si(100) и Ge/Si(100)
|c О. И. Кукенов, В. В. Дирко
|
| 336 |
|
|
|a Текст
|
| 337 |
|
|
|a электронный
|
| 504 |
|
|
|a Библиогр.: 3 назв.
|
| 520 |
3 |
|
|a В ходе исследования роста эпитаксиальных пленок кремния методом дифракции быстрых электронов, определён принципиально разный характер колебаний интенсивности дифракции при различных направлениях.
|
| 653 |
|
|
|a дифракция быстрых электронов
|
| 653 |
|
|
|a эпитаксиальные слои кремния
|
| 653 |
|
|
|a молекулярно-лучевая эпитаксия
|
| 653 |
|
|
|a полупроводниковые наноструктуры
|
| 655 |
|
4 |
|a статьи в сборниках
|
| 700 |
1 |
|
|a Дирко, Владимир Владиславович
|
| 773 |
0 |
|
|t Сборник материалов XVIII Российской научной студенческой конференции "Физика твердого тела" (ФТТ-2022), 28-31 марта 2022 года, Томск, Россия
|d Томск, 2022
|g С. 42-44
|
| 852 |
4 |
|
|a RU-ToGU
|
| 856 |
4 |
|
|u http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001004056
|
| 908 |
|
|
|a статья
|
| 999 |
|
|
|c 1004056
|d 1004056
|
