Механизм дефектообразования в МДП структурах на основе CdxHg1-xTe под действием мягкого рентгеновского излучения лазерной плазмы

Приводятся результаты исследования ВФХ МДП структур на основе CdxHg1-xTe, подвергнутых действию мягкого рентгеновского излучения. Предлагается модель генерации поверхностных дефектов излучением....

Полное описание

Библиографическая информация

Опубликовано в: :	IX Международная конференция "Лазерные, плазменные исследования и технологии" ЛаПлаз-2023 : сборник научных трудов С. 43
Другие авторы:	Средин, Виктор Геннадиевич, Войцеховский, Александр Васильевич, Мелехов, Андрей Петрович, Рамакоти, Рави Шрираджа, Дзядух, Станислав Михайлович
Формат:	Статья в сборнике
Язык:	Russian
Предметы:	дефектообразование полупроводники мягкое рентгеновское излучение экспериментальные исследования статьи в сборниках
Online-ссылка:	http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001130341