Измерение скорости насыщения электронов в квантовой яме AlGaAs/InGaAs
В диапазоне температур 200–400 К измерены зависимости средней дрейфовой скорости электронов от напряженности электрического поля для двумерного электронного газа в квантовой яме гетероструктуры AlGaAs/InGaAs. Показано, что в указанном диапазоне температур скорость насыщения меняется от 1,55·107 до 1...
| Published in: | Известия высших учебных заведений. Физика Т. 53, № 9. С. 34-39 |
|---|---|
| Main Author: | Айзенштат, Геннадий Исаакович |
| Other Authors: | Божков, Владимир Григорьевич, Ющенко, Алексей Юрьевич |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001133295 |
Similar Items
- Влияние морфологии гетерограниц на транспорт двумерных электронов в GaAs квантовых ямах с AlAs/GaAs сверхрешеточными барьерами
-
GaAs/InGaAs микро-, нанотрубки и перспективы их применения в микромеханике и биологии
by: Принц, Александр Викторович - Исследование электронных состояний в тройных квантовых ямах на основе GaAs/AlGaAs методом спектроскопии фотоотражения
-
Анализ энергетического спектра гетероструктур с InGaAs/GaAs квантовыми ямами и InAs/GaAs квантовыми точками по данным емкостной спектроскопии и спектроскопии полной проводимости
by: Кузнецова, А. Н. - Влияние обработки в низкоэнергетической плазме CF4 и последующего отжига на образование дефектов в псевдоморфных GaAs/AlGaAs/InGaAs/GaAs гетерострукткрах для мощных сверхвысокочастотных транзисторов
