Исследование влияния размера локальной металлизации поверхности n-GaAs на картину распределения поверхностного потенциала, полученную методом атомно-силовой микроскопии
С использованием атомно-силового микроскопа (АСМ) в варианте метода зонда Кельвина (МЗК) проведены исследования потенциала поверхности арсенида галлия GaAs с локально нанесенными на нее тонкими слоями золота. Полученные результаты показывают, что измеряемый потенциал в системе зонд – металл в целом...
| Опубликовано в: : | Известия высших учебных заведений. Физика Т. 54, № 3. С. 32-35 |
|---|---|
| Главный автор: | Назарчук, Юлия Николаевна |
| Другие авторы: | Новиков, Вадим Александрович, Торхов, Николай Анатольевич |
| Формат: | Статья в журнале |
| Язык: | Russian |
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001133480 |
Похожие документы
- Исследование рельефа и поверхностного потенциала эпитаксиальных пленок GaAs методом атомно-силовой микроскопии
- Определение вольт-амперных характеристик аргоновой плазмы с помощью следящего зонда
-
Plasma Diagnostic by Probes
по: Tichy, M. chemist Professor of Tomsk Polytechnic University, Doctor of physical and mathematical sciences 1947-
Публикация: (2015) -
Распределение поверхностного потенциала на гетерогранице AlxGa1-xAs
по: Брудный, Павел Александрович -
Plasma Diagnostic by Probes study aid
по: Tichy, M.
Публикация: (2016)
