Исследование особенностей низкотемпературного осаждения углеродных покрытий на поверхность пленок пермаллоя в нормальных условиях при взаимодействии с ароматическими сольвентами

Тонкие пленки пермаллоя Fe19Ni81 были получены методом ионно-плазменного осаждения на монокристаллическую кремниевую подложку в присутствии технологического магнитного поля (100 Э). Поверхность полученных образцов подвергалась модификации в различных условиях: либо с предварительной выдержкой в пр...

Full description

Bibliographic Details
Published in:Известия высших учебных заведений. Физика Т. 60, № 1. С. 134-139
Other Authors: Членова, Анна Александровна, Свалов, Андрей Владимирович, Шевырталов, Сергей Николаевич, Чичай, Ксения Анатольевна, Родионова, Валерия Викторовна, Курляндская, Галина Владимировна
Format: Article
Language:Russian
Subjects:
Online Access:http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001141679
Перейти в каталог НБ ТГУ
Description
Summary:Тонкие пленки пермаллоя Fe19Ni81 были получены методом ионно-плазменного осаждения на монокристаллическую кремниевую подложку в присутствии технологического магнитного поля (100 Э). Поверхность полученных образцов подвергалась модификации в различных условиях: либо с предварительной выдержкой в присутствии атмосферного кислорода, либо без нее. При нормальных условиях наблюдался процесс низкотемпературной конденсации углерода и образования дефектного графеноподобного покрытия при выдержке в толуоле (метилбензоле). Метод энергодисперсионного анализа позволил достоверно показать, что после двухнедельной модификации в толуоле содержание углерода на поверхности превышает 30 %, что существенно выше естественного фона амбиентального углерода. Увеличение времени модификации поверхности в ароматическом сольвенте толуоле приводит к линейному росту содержания углерода на поверхности до 97 % при модификации в течение 11 недель. Время предварительной выдержки на воздухе до помещения в ароматический сольвент не влияет существенно на кинетику образования углеродного покрытия. В целом, данное покрытие не оказывало существенного влияния на статические магнитные свойства пленочных образцов.
Bibliography:Библиогр.: 13 назв.
ISSN:0021-3411