Использование жесткого синхротронного излучения для дифракционных исследований композиционных и функциональных материалов
Рассматриваются возможности использования жесткого, с энергией квантов выше 25 кэВ, синхротронного излучения (СИ) для решения разнообразных задач по исследованию структурных изменений, происходящих с материалами. Проводится оценка преимуществ и ограничений, появляющихся при использование жесткого СИ...
| Published in: | Известия высших учебных заведений. Физика Т. 60, № 3. С. 150-156 |
|---|---|
| Main Author: | |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001141802 |