Использование жесткого синхротронного излучения для дифракционных исследований композиционных и функциональных материалов

Рассматриваются возможности использования жесткого, с энергией квантов выше 25 кэВ, синхротронного излучения (СИ) для решения разнообразных задач по исследованию структурных изменений, происходящих с материалами. Проводится оценка преимуществ и ограничений, появляющихся при использование жесткого СИ...

Полное описание

Библиографическая информация
Опубликовано в: :Известия высших учебных заведений. Физика Т. 60, № 3. С. 150-156
Главный автор: Анчаров, Алексей Игоревич
Формат: Статья в журнале
Язык:Russian
Предметы:
Online-ссылка:http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001141802

Похожие документы