Метод обобщенного физического свойства в задачах кристаллофизики
Предлагается метод определения кристаллографических направлений в кристаллах различной точечной симметрии, вдоль которых комбинация физических свойств различных рангов и симметрий Кюри принимает заданное значение. Метод продемонстрирован на комбинации тензоров второго ранга, описывающих оптические и...
| Опубликовано в: : | Известия высших учебных заведений. Физика Т. 59, № 2. С. 95-98 |
|---|---|
| Главный автор: | |
| Другие авторы: | |
| Формат: | Статья в журнале |
| Язык: | Russian |
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001142204 |
| Итог: | Предлагается метод определения кристаллографических направлений в кристаллах различной точечной симметрии, вдоль которых комбинация физических свойств различных рангов и симметрий Кюри принимает заданное значение. Метод продемонстрирован на комбинации тензоров второго ранга, описывающих оптические и тепловые свойства кристаллов моноклинной сингонии. Показана возможность применения предлагаемого метода для физических свойств высоких рангов. |
|---|---|
| Библиография: | Библиогр.: 7 назв. |
| ISSN: | 0021-3411 |