Исследование процесса роста и анализ структуры тонких, наклонно осаждаемых пленок
На основе метода Монте-Карло построена модель роста тонких пленок, получаемых наклонным падением частиц. Проведен анализ морфологии синтезированных в результате моделирования структур. Для изучения характера распределения микроструктурных элементов (столбцов) в плоскости пленки использовались автоко...
| Published in: | Известия высших учебных заведений. Физика Т. 59, № 2. С. 120-125 |
|---|---|
| Main Author: | Беляев, Борис Афанасьевич |
| Other Authors: | Изотов, Андрей Викторович, Соловьев, Платон Николаевич |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001142639 |
Similar Items
-
Моделирование роста и легирования полупроводниковых пленок методом Монте-Карло/
by: Александров, Л. Н. Леонид Наумович, et al.
Published: (1991) -
Управление свойствами пленок, получаемых плазмохимическим осаждением
by: Лакида, Павел Алексеевич -
Процессы роста и синтеза полупроводниковых кристаллов и пленок [сборник докладов : в 2 ч.]
Published: (1975) -
Моделирование и статистический анализ псевдослучайных чисел на электронных вычислительных машинах: научное издание/
by: Голенко, Д. И. Дмитрий Исаакович
Published: (1965) -
Компьютерное моделирование послойного роста грани 3D-островка
by: Безродный, Дмитрий Алексеевич
