Исследование процесса роста и анализ структуры тонких, наклонно осаждаемых пленок
На основе метода Монте-Карло построена модель роста тонких пленок, получаемых наклонным падением частиц. Проведен анализ морфологии синтезированных в результате моделирования структур. Для изучения характера распределения микроструктурных элементов (столбцов) в плоскости пленки использовались автоко...
| Опубликовано в: : | Известия высших учебных заведений. Физика Т. 59, № 2. С. 120-125 |
|---|---|
| Главный автор: | Беляев, Борис Афанасьевич |
| Другие авторы: | Изотов, Андрей Викторович, Соловьев, Платон Николаевич |
| Формат: | Статья в журнале |
| Язык: | Russian |
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001142639 |
Похожие документы
-
Моделирование роста и легирования полупроводниковых пленок методом Монте-Карло/
по: Александров, Л. Н. Леонид Наумович, et al.
Публикация: (1991) -
Управление свойствами пленок, получаемых плазмохимическим осаждением
по: Лакида, Павел Алексеевич -
Процессы роста и синтеза полупроводниковых кристаллов и пленок [сборник докладов : в 2 ч.]
Публикация: (1975) -
Моделирование и статистический анализ псевдослучайных чисел на электронных вычислительных машинах: научное издание/
по: Голенко, Д. И. Дмитрий Исаакович
Публикация: (1965) -
Компьютерное моделирование послойного роста грани 3D-островка
по: Безродный, Дмитрий Алексеевич
