Аналитическое исследование влияния характеристик пучка и поля ондулятора на излучение лазера на свободных электронах

На основе аналитического описания излучения лазеров на свободных электронах (ЛСЭ) исследуется влияние параметров электронного пучка на характеристики излучения ЛСЭ. Анализируется влияние сечения пучка, его эмиттанса, параметров Твисса и разброса энергии на длину усиления ЛСЭ и на мощности излучения...

Full description

Bibliographic Details
Published in:Известия высших учебных заведений. Физика Т. 67, № 7. С. 86-96
Main Author: Жуковский, Константин Владимирович
Format: Article
Language:Russian
Subjects:
Online Access:http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001144428
LEADER 03809nab a2200325 c 4500
001 koha001144428
005 20240925172545.0
007 cr |
008 240925|2024 ru s c rus d
024 7 |a 10.17223/00213411/67/7/10  |2 doi 
035 |a koha001144428 
040 |a RU-ToGU  |b rus  |c RU-ToGU 
100 1 |a Жуковский, Константин Владимирович 
245 1 0 |a Аналитическое исследование влияния характеристик пучка и поля ондулятора на излучение лазера на свободных электронах  |c К. В. Жуковский 
246 1 1 |a Analytical study of the influence of characteristics of the beam and undulator field on the free electron laser radiation 
336 |a Текст 
337 |a электронный 
504 |a Библиогр.: 66 назв. 
506 |a Ограниченный доступ 
520 3 |a На основе аналитического описания излучения лазеров на свободных электронах (ЛСЭ) исследуется влияние параметров электронного пучка на характеристики излучения ЛСЭ. Анализируется влияние сечения пучка, его эмиттанса, параметров Твисса и разброса энергии на длину усиления ЛСЭ и на мощности излучения гармоник. Выясняется также влияние второй гармоники поля ондулятора на излучение гармоник ЛСЭ, в частности второй. В качестве примера рассматривается ЛСЭ LEUTL как источник света в видимом диапазоне с хорошо документированными характеристиками. В исследованиях свойств материалов и поверхностей ЛСЭ применяется в качестве источника света, при этом анализируется нелинейная генерация второй гармоники (SHG) в веществе. С целью выделить анализируемый отклик SHG на фоне излучения второй гармоники источника, изучаются возможности подавления второй гармоники ЛСЭ. Проводится аналитическое исследование влияния параметров пучка и поля ондулятора на излучение второй гармоники ЛСЭ. Предлагается использовать увеличенный разброс энергий электронов и вторую гармонику поля ондулятора в противофазе основному полю для уменьшения мощности второй гармоники излучения. Эффект может достигать несколько порядков величины мощности гармоники. 
653 |a ондуляторное излучение 
653 |a лазеры на свободных электронах 
653 |a гармоники 
653 |a релятивистские заряды 
655 4 |a статьи в журналах 
773 0 |t Известия высших учебных заведений. Физика  |d 2024  |g Т. 67, № 7. С. 86-96  |x 0021-3411  |w 0026-80960 
852 4 |a RU-ToGU 
856 4 |u http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001144428 
908 |a статья 
999 |c 1144428  |d 1144428