Средин, В. Г., Войцеховский, А. В., Степанченко, А. В., Мелехов, А. П., & Рамакоти, Р. Ш. Дефектообразование в структурах узкозонный полупроводник - поверхностный окисел мягким рентгеновским излучением. XXVII Международная научно-техническая конференция по фотоэлектронике и приборам ночного видения, 29-31 мая 2024 г., Москва, Россия : материалы конференции, М., 2024, .
Chicago Style (17th ed.) CitationСредин, Виктор Геннадиевич, Александр Васильевич Войцеховский, А. В Степанченко, Андрей Петрович Мелехов, and Рави Шрираджа Рамакоти. "Дефектообразование в структурах узкозонный полупроводник - поверхностный окисел мягким рентгеновским излучением." XXVII Международная научно-техническая конференция по фотоэлектронике и приборам ночного видения, 29-31 мая 2024 г., Москва, Россия : материалы конференции М., 2024 ().
MLA (8th ed.) CitationСредин, Виктор Геннадиевич, et al. "Дефектообразование в структурах узкозонный полупроводник - поверхностный окисел мягким рентгеновским излучением." XXVII Международная научно-техническая конференция по фотоэлектронике и приборам ночного видения, 29-31 мая 2024 г., Москва, Россия : материалы конференции, М., 2024, .