Дефектообразование в структурах узкозонный полупроводник – поверхностный окисел мягким рентгеновским излучением

Библиографическая информация
Опубликовано в: :	XXVII Международная научно-техническая конференция по фотоэлектронике и приборам ночного видения, 29-31 мая 2024 г., Москва, Россия : материалы конференции С. 339-341
Другие авторы:	Средин, Виктор Геннадиевич, Войцеховский, Александр Васильевич, Степанченко, А. В., Мелехов, Андрей Петрович, Рамакоти, Рави Шрираджа
Формат:	Статья в сборнике
Язык:	Russian
Предметы:	генерация дефектов рентгеновское излучение узкозонные полупроводники экспериментальные исследования статьи в сборниках
Online-ссылка:	http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001145505

Описание
Библиография:	Библиогр.: 6 назв.
ISBN:	9785948366968

Похожие документы