LEADER 01962naa a2200349 c 4500
001 koha001145505
005 20241127161117.0
007 cr |
008 241011s2024 ru fs 100 0 rus d
024 7 |a 10.51368/978-5-94836-696-8-2024-339  |2 doi 
035 |a koha001145505 
040 |a RU-ToGU  |b rus  |c RU-ToGU 
245 1 0 |a Дефектообразование в структурах узкозонный полупроводник – поверхностный окисел мягким рентгеновским излучением  |c В. Г. Средин, А. В. Войцеховский, А. В. Степанченко [и др.] 
246 1 1 |a Defect formation in structures of narrow–band semiconductor - surface oxide by soft X-ray radiation 
336 |a Текст 
337 |a электронный 
504 |a Библиогр.: 6 назв. 
653 |a генерация дефектов 
653 |a рентгеновское излучение 
653 |a узкозонные полупроводники 
653 |a экспериментальные исследования 
655 4 |a статьи в сборниках 
700 1 |a Средин, Виктор Геннадиевич 
700 1 |a Войцеховский, Александр Васильевич 
700 1 |a Степанченко, А. В. 
700 1 |a Мелехов, Андрей Петрович 
700 1 |a Рамакоти, Рави Шрираджа 
773 0 |t XXVII Международная научно-техническая конференция по фотоэлектронике и приборам ночного видения, 29-31 мая 2024 г., Москва, Россия : материалы конференции  |d М., 2024  |g С. 339-341  |z 9785948366968 
852 4 |a RU-ToGU 
856 4 |u http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001145505 
908 |a статья 
999 |c 1145505  |d 1145505