Дефектообразование в структурах узкозонный полупроводник - поверхностный окисел мягким рентгеновским излучением - Средин, Виктор Геннадиевич; Войцеховский, Александр Васильевич; Степанченко, А. В.; Мелехов, Андрей Петрович; Рамакоти, Рави Шрираджа (XXVII Международная научно-техническая конференция по фотоэлектронике и приборам ночного видения, 29-31 мая 2024 г., Москва, Россия : материалы конференции)