Пропуск в контексте
  • Язык
    • English
    • Русский

Расширенный поиск
  • Поиск
  • Дефектообразование в структура...
  • Цитировать
  • Печать
  • Запись для экспорта
    • Экспорт в RefWorks
    • Экспорт в EndNoteWeb
    • Экспорт в EndNote
  • Permanent link
Экспорт завершен — 
Дефектообразование в структурах узкозонный полупроводник - поверхностный окисел мягким рентгеновским излучением

Дефектообразование в структурах узкозонный полупроводник - поверхностный окисел мягким рентгеновским излучением

Библиографическая информация
Опубликовано в: :XXVII Международная научно-техническая конференция по фотоэлектронике и приборам ночного видения, 29-31 мая 2024 г., Москва, Россия : материалы конференции С. 339-341
Другие авторы: Средин, Виктор Геннадиевич, Войцеховский, Александр Васильевич, Степанченко, А. В., Мелехов, Андрей Петрович, Рамакоти, Рави Шрираджа
Формат: Статья в сборнике
Язык:Russian
Предметы:
генерация дефектов
рентгеновское излучение
узкозонные полупроводники
экспериментальные исследования
статьи в сборниках
Online-ссылка:http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001145505
Перейти в каталог НБ ТГУ
  • Фонды
  • Описание
  • Похожие документы
  • Marc-запись

Internet

http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001145505
Перейти в каталог НБ ТГУ

Похожие документы

  • Peculiarities of the external photoelectric effect in narrow-band semiconductors caused by soft X-ray radiation
  • Поверхностное дефектообразование в Cdx Hg1-xTe мягким рентгеновским излучением лазерной плазмы
  • К проблеме дефектообразования в эпитаксиальных слоях CdxHg1-xTe мягким рентгеновским излучением лазерной плазмы
  • Исследование дефектообразования в эпитаксиальных слоях n-CdxHg1-xTe мягким рентгеновским излучением
  • Микроскопический механизм формирования поверхностных дефектов в CdxHg1-xTe мягким рентгеновским излучением
|   Расширенный поиск   |   Советы для поиска   |

Большой университет Томска
https://university-tomsk.ru/
Загрузка...