Skip to content
  • Language
    • English
    • Русский

Advanced
  • Дефектообразование в структура...
  • Cite this
  • Print
  • Export Record
    • Export to RefWorks
    • Export to EndNoteWeb
    • Export to EndNote
  • Permanent link
Дефектообразование в структурах узкозонный полупроводник - поверхностный окисел мягким рентгеновским излучением

Дефектообразование в структурах узкозонный полупроводник - поверхностный окисел мягким рентгеновским излучением

Bibliographic Details
Published in:XXVII Международная научно-техническая конференция по фотоэлектронике и приборам ночного видения, 29-31 мая 2024 г., Москва, Россия : материалы конференции С. 339-341
Other Authors: Средин, Виктор Геннадиевич, Войцеховский, Александр Васильевич, Степанченко, А. В., Мелехов, Андрей Петрович, Рамакоти, Рави Шрираджа
Format: Book Chapter
Language:Russian
Subjects:
генерация дефектов
рентгеновское излучение
узкозонные полупроводники
экспериментальные исследования
статьи в сборниках
Online Access:http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001145505
Перейти в каталог НБ ТГУ
  • Holdings
  • Description
  • Similar Items
  • Staff View

Internet

http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001145505
Перейти в каталог НБ ТГУ

Similar Items

  • Peculiarities of the external photoelectric effect in narrow-band semiconductors caused by soft X-ray radiation
  • Поверхностное дефектообразование в Cdx Hg1-xTe мягким рентгеновским излучением лазерной плазмы
  • К проблеме дефектообразования в эпитаксиальных слоях CdxHg1-xTe мягким рентгеновским излучением лазерной плазмы
  • Исследование дефектообразования в эпитаксиальных слоях n-CdxHg1-xTe мягким рентгеновским излучением
  • Микроскопический механизм формирования поверхностных дефектов в CdxHg1-xTe мягким рентгеновским излучением
|   Advanced Search   |   Search Tips   |

Большой университет Томска
https://university-tomsk.ru/
Loading...