Кукенов, О. И., & Соколов, А. С. Анализ длины димерного ряда при гетероэпитаксиальном росте Ge/Si(100) методом дифракции быстрых отраженных электронов. Двадцатая Всероссийская конференция студенческих научно-исследовательских инкубаторов, г. Томск, 2–5 мая 2023 г., Томск, 2023, .
Chicago Style (17th ed.) CitationКукенов, Олжас Игоревич, and Арсений Сергеевич Соколов. "Анализ длины димерного ряда при гетероэпитаксиальном росте Ge/Si(100) методом дифракции быстрых отраженных электронов." Двадцатая Всероссийская конференция студенческих научно-исследовательских инкубаторов, г. Томск, 2–5 мая 2023 г. Томск, 2023 ().
MLA (8th ed.) CitationКукенов, Олжас Игоревич, and Арсений Сергеевич Соколов. "Анализ длины димерного ряда при гетероэпитаксиальном росте Ge/Si(100) методом дифракции быстрых отраженных электронов." Двадцатая Всероссийская конференция студенческих научно-исследовательских инкубаторов, г. Томск, 2–5 мая 2023 г., Томск, 2023, .
