Программно-аппаратный комплекс LabVIEW-NI ELVIS II+ для измерения вольтамперных характеристик МОП-транзисторов
Представлено описание программно-аппаратного комплекса LabVIEW-NI ELVIS II+ для измерения передаточных и выходных вольтамперных характеристик МОП-транзисторов. Разработанный комплекс предназначен для использования в лабораторном практикуме по курсу "Схемотехника аналоговых электронных устройс...
| Опубликовано в: : | Двадцатая Всероссийская конференция студенческих научно-исследовательских инкубаторов, г. Томск, 2-5 мая 2023 г. С. 143-145 |
|---|---|
| Главный автор: | |
| Формат: | Статья в сборнике |
| Язык: | Russian |
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001146326 Перейти в каталог НБ ТГУ |
| Итог: | Представлено описание программно-аппаратного комплекса LabVIEW-NI ELVIS II+ для измерения передаточных и выходных вольтамперных характеристик МОП-транзисторов. Разработанный комплекс предназначен для использования в лабораторном практикуме по курсу "Схемотехника аналоговых электронных устройств". |
|---|---|
| Библиография: | Библиогр.: 6 назв. |
| ISBN: | 9785936296987 |