Исследование влияния параметров синтезатора частот на повышение точности измерения диэлектрических свойств материалов в открытых резонаторах

The article describes how the frequency fluctuation of a frequency generator affects the measurement accuracy of dielectric and loss tangent using open resonator techniques. A frequency synthesizer based on a phase-locked backward wave oscillator is proposed to increase the measurement accuracy.

Bibliographic Details
Published in:Перспективы развития фундаментальных наук. Т. 7 : сборник научных трудов XX Международной конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, 25-28 апреля 2023 г. Т. 7 : IT-технологии и электроника. С. 157-159
Main Author: Шаншо, Ахмад
Format: Book Chapter
Language:Russian
Subjects:
Online Access:http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001146841
Перейти в каталог НБ ТГУ
LEADER 02226naa a2200325 c 4500
001 koha001146841
005 20241104212539.0
007 cr |
008 241029s2023 ru fs 100 0 rus d
035 |a koha001146841 
040 |a RU-ToGU  |b rus  |c RU-ToGU 
100 1 |a Шаншо, Ахмад  |9 855703 
245 1 0 |a Исследование влияния параметров синтезатора частот на повышение точности измерения диэлектрических свойств материалов в открытых резонаторах  |c А. Шаншо 
246 1 1 |a Investigation of the effect of frequency synthesizer parameters on improving the accuracy of measuring the properties of materials in open resonators 
336 |a Текст 
337 |a электронный 
504 |a Библиогр.: 6 назв. 
520 3 |a The article describes how the frequency fluctuation of a frequency generator affects the measurement accuracy of dielectric and loss tangent using open resonator techniques. A frequency synthesizer based on a phase-locked backward wave oscillator is proposed to increase the measurement accuracy. 
653 |a диэлектрические свойства 
653 |a резонаторы открытые 
653 |a стабильность частоты 
653 |a экспериментальные исследования 
655 4 |a статьи в сборниках  |9 975676 
773 0 |t Перспективы развития фундаментальных наук. Т. 7 : сборник научных трудов XX Международной конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, 25-28 апреля 2023 г.  |d Томск, 2023  |g Т. 7 : IT-технологии и электроника. С. 157-159  |z 9785438711438  |z 9785438711360 
852 4 |a RU-ToGU 
856 4 |u http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001146841 
856 |y Перейти в каталог НБ ТГУ  |u https://koha.lib.tsu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=1146841 
908 |a статья 
999 |c 1146841  |d 1146841 
039 |b 100