Возможный метод диагностики субфемтосекундных электронных пучков по когерентному оптическому переходному излучению - Потылицин, Александр Петрович (Известия высших учебных заведений. Физика)
Когерентное переходное излучение (КПИ) широко используется для определения продольных размеров электронных пучков в ускорительной технике. Рассматривается процесс КПИ в реальной Au-мишени для определения размеров электронных пучков длительностью от 100 до 300 нм и показана возможность использования таких мишеней.