Оценка деформаций кристаллической решетки по глубине протонзамещенных оптических волноводов на подложках монокристаллов ниобата лития - Чиркова, Ирина Михайловна; Баснин, Павел Павлович; Севостьянов, Олег Геннадьевич; Кострицкий, Сергей Михайлович (Известия высших учебных заведений. Физика)
Предложен способ определения кристаллической фазы и оценки деформаций кристаллической решетки в протонзамещенных оптических HₓLi₁₋ₓNbO₃-волноводах из анализа спектров комбинационного рассеяния света, полученных в методике измерений с высоким пространственным разрешением (так называемой спектроскопии «микроКРС»).