Оценка деформаций кристаллической решетки по глубине протонзамещенных оптических волноводов на подложках монокристаллов ниобата лития

Предложен способ определения кристаллической фазы и оценки деформаций кристаллической решетки в протонзамещенных оптических HₓLi₁₋ₓNbO₃-волноводах из анализа спектров комбинационного рассеяния света, полученных в методике измерений с высоким пространственным разрешением (так называемой спектроскопии...

Полное описание

Библиографическая информация

Опубликовано в: :	Известия высших учебных заведений. Физика Т. 61, № 6. С. 148-151
Другие авторы:	Чиркова, Ирина Михайловна, Баснин, Павел Павлович, Севостьянов, Олег Геннадьевич, Кострицкий, Сергей Михайлович
Формат:	Статья в журнале
Язык:	Russian
Предметы:	ниобат лития структурные фазовые переходы оптические волноводы протонный обмен спектроскопия микроКРС статьи в журналах
Online-ссылка:	http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001148248