Оценка деформаций кристаллической решетки по глубине протонзамещенных оптических волноводов на подложках монокристаллов ниобата лития
Предложен способ определения кристаллической фазы и оценки деформаций кристаллической решетки в протонзамещенных оптических HₓLi₁₋ₓNbO₃-волноводах из анализа спектров комбинационного рассеяния света, полученных в методике измерений с высоким пространственным разрешением (так называемой спектрос...
| Published in: | Известия высших учебных заведений. Физика Т. 61, № 6. С. 148-151 |
|---|---|
| Other Authors: | Чиркова, Ирина Михайловна, Баснин, Павел Павлович, Севостьянов, Олег Геннадьевич, Кострицкий, Сергей Михайлович |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001148248 Перейти в каталог НБ ТГУ |
Similar Items
-
Исследование фоторефрактивного отклика протонзамещенных волноводов в кристаллах ниобата лития
by: Конева, И. С. - Фототермическая запись микрооптических структур в модифицированном приповерхностном слое монокристаллов ниобата лития
-
Анализ термофлуктуационных явлений в монокристаллах ниобата лития
by: Азанова, И. С. - Диэлектрическая релаксация воды, адсорбированной на поверхности ниобата лития
-
Фазовый состав ионообменных волноводных слоев на кристаллах ниобата лития
by: Сапун, А. Г.
