Тестирование многовыходных комбинационных схем в условиях известных реакций на тестовые наборы

При построении тестовых последовательностей для многовыходных логических схем обычно используются тестовые наборы на множестве входных переменных схемы, такие что реакции на каждый из наборов отличаются в исправном и неисправном состоянии схемы хотя бы на одном из ее выходов. Знание реакций на ка...

Full description

Bibliographic Details
Published in:Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика № 69. С. 134-143
Other Authors: Матросова, Анжела Юрьевна, Савенкова, Марина Максимовна, Провкин, Виктор Алексеевич, Сухорученко, Ксения Алексеевна
Format: Article
Language:Russian
Subjects:
Online Access:https://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001150995
Перейти в каталог НБ ТГУ
LEADER 03592nab a2200361 c 4500
001 koha001150995
005 20250131172047.0
007 cr |
008 250130|2024 ru s c rus d
024 7 |a 10.17223/19988605/69/14  |2 doi 
035 |a koha001150995 
040 |a RU-ToGU  |b rus  |c RU-ToGU 
245 1 0 |a Тестирование многовыходных комбинационных схем в условиях известных реакций на тестовые наборы  |c А. Ю. Матросова, М. М. Савенкова, В. А. Провкин, К. А. Сухорученко 
246 1 1 |a Testing of multi-output combinational circuits when reactions on test patterns are known 
336 |a Текст 
337 |a электронный 
504 |a Библиогр.: 8 назв. 
520 3 |a При построении тестовых последовательностей для многовыходных логических схем обычно используются тестовые наборы на множестве входных переменных схемы, такие что реакции на каждый из наборов отличаются в исправном и неисправном состоянии схемы хотя бы на одном из ее выходов. Знание реакций на каждый из наборов может оказаться полезным при построении тестовых последовательностей с целью включения подходящих наборов, ориентированных как на снижение потребляемой при тестировании мощности, так и на обнаружение неисправностей. Предлагается точный алгоритм поиска всех тестовых наборов с соответствующими им реакциями исправной и неисправной схем. Алгоритм основан на выполнении операций над ROBDD-графами, зависящими только от входных переменных, только от выходных переменных и от тех и других переменных вместе. Обсуждаются возможности применения тестовых наборов совместно с их реакциями с целью дебаггинга. 
653 |a комбинационные схемы 
653 |a тестовые наборы 
653 |a ROBDD-графы 
655 4 |a статьи в журналах 
700 1 |a Матросова, Анжела Юрьевна  |9 65116 
700 1 |a Савенкова, Марина Максимовна  |9 762963 
700 1 |a Провкин, Виктор Алексеевич  |9 490556 
700 1 |a Сухорученко, Ксения Алексеевна  |9 856133 
773 0 |t Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика  |d 2024  |g  № 69. С. 134-143  |x 1998-8605  |w 0210-40860 
852 4 |a RU-ToGU 
856 4 |u https://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001150995 
856 |y Перейти в каталог НБ ТГУ  |u https://koha.lib.tsu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=1150995 
908 |a статья 
999 |c 1150995  |d 1150995 
039 |b 100