Исследование валентной зоны легированного железом германия методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии и теории функционала плотности
Электронная структура двойной пленочной системы Ge-Fe исследована сочетанием методов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии и теории функционала плотности (ТФП). Двойная пленочная система Ge-Fe толщиной порядка 7.5 нм с одинаковым содержанием атомов Ge и Fe формировалась в условиях сверх...
| Published in: | Известия высших учебных заведений. Физика Т. 68, № 3. С. 54-59 |
|---|---|
| Main Author: | Магкоев, Тамерлан Таймуразович |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Subjects: | |
| Online Access: | https://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001155249 Перейти в каталог НБ ТГУ |
Similar Items
- Электрические свойства GaAs, легированного железом
-
Электронная структура органических соединений по данным фотоэлектронной спектроскопии
by: Вовна, Виталий Иванович
Published: (1991) -
Валентные электронные уровни химических соединений (по данным фотоэлектронной, рентгеноэлектронной и рентгеновской спектроскопии)
by: Нефедов, Вадим Иванович
Published: (1975) - Состояние платины в высокоактивных катализаторах Pt/CeO2 по данным фотоэлектронной спектроскопии
-
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: Монография : Пер. с англ./
by: Сих, М. П., et al.
Published: (1987)
