Трехмерный нейросетевой анализ дефектов радиоэлектронной аппаратуры
В статье рассматриваются проблемы, связанные с обнаружением дефектов в электронном оборудовании. Основное внимание уделяется неразрушающим методам контроля, включающим нейронные сети и 3D-рентгеновскую микротомографию. Кроме того, освещаются ключевые препятствия, которые могут возникнуть при внедре...
| Published in: | Инноватика-2025 : сборник материалов XXI Международной школы-конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, 28-30 апреля 2025 г., г. Томск, Россия С. 521-524 |
|---|---|
| Main Author: | |
| Other Authors: | |
| Format: | Book Chapter |
| Language: | Russian |
| Subjects: | |
| Online Access: | https://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001273271 Перейти в каталог НБ ТГУ |
| Summary: | В статье рассматриваются проблемы, связанные с обнаружением дефектов в электронном оборудовании. Основное внимание уделяется неразрушающим методам контроля, включающим нейронные сети и 3D-рентгеновскую микротомографию. Кроме того, освещаются ключевые препятствия, которые могут возникнуть при внедрении этих передовых методов. |
|---|---|
| Bibliography: | Библиогр.: 5 назв. |
| ISBN: | 9785936297311 |