Трехмерный нейросетевой анализ дефектов радиоэлектронной аппаратуры - Сырямкин, Владимир Иванович (Инноватика-2025 : сборник материалов XXI Международной школы-конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, 28-30 апреля 2025 г., г. Томск, Россия)
В статье рассматриваются проблемы, связанные с обнаружением дефектов в электронном оборудовании. Основное внимание уделяется неразрушающим методам контроля, включающим нейронные сети и 3D-рентгеновскую микротомографию. Кроме того, освещаются ключевые препятствия, которые могут возникнуть при внедрении этих передовых методов.