Трехмерный нейросетевой анализ дефектов радиоэлектронной аппаратуры
В статье рассматриваются проблемы, связанные с обнаружением дефектов в электронном оборудовании. Основное внимание уделяется неразрушающим методам контроля, включающим нейронные сети и 3D-рентгеновскую микротомографию. Кроме того, освещаются ключевые препятствия, которые могут возникнуть при внедре...
| Опубликовано в: : | Инноватика-2025 : сборник материалов XXI Международной школы-конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, 28-30 апреля 2025 г., г. Томск, Россия С. 521-524 |
|---|---|
| Главный автор: | |
| Другие авторы: | |
| Формат: | Статья в сборнике |
| Язык: | Russian |
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | https://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001273271 Перейти в каталог НБ ТГУ |