Пропуск в контексте
  • Язык
    • English
    • Русский

Расширенный поиск
  • Scanning Probe Microscopy
  • Цитировать
  • Печать
  • Запись для экспорта
    • Экспорт в RefWorks
    • Экспорт в EndNoteWeb
    • Экспорт в EndNote
  • Permanent link
Scanning Probe Microscopy Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale /

Scanning Probe Microscopy Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale /

Библиографическая информация
Опубликовано в: :Springer e-books
Главный автор: Kalinin, Sergei
Соавтор: SpringerLink (Online service)
Другие авторы: Gruverman, Alexei
Формат: Электронная книга
Язык:English
Публикация: New York, NY : Springer Science+Business Media, LLC, 2007.
Предметы:
Mechanical engineering
Microscopy
Nanotechnology
Particles (Nuclear physics)
Surfaces (Physics)
chemistry
Biological Microscopy
Characterization and Evaluation of Materials
Mechanical Engineering
Solid State Physics and Spectroscopy
Surfaces and Interfaces, Thin Films
Online-ссылка:http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-28668-6
Перейти в каталог НБ ТГУ
  • Фонды
  • Описание
  • Похожие документы
  • Marc-запись

Internet

http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-28668-6
Перейти в каталог НБ ТГУ

Похожие документы

  • Scanning Probe Microscopy Atomic Scale Engineering by Forces and Currents /
    по: Foster, Adam
    Публикация: (2006)
  • Surface Microscopy with Low Energy Electrons
    по: Bauer, Ernst
    Публикация: (2014)
  • Applied Scanning Probe Methods V Scanning Probe Microscopy Techniques /
    по: Bhushan, Bharat
    Публикация: (2007)
  • Applied Scanning Probe Methods XI Scanning Probe Microscopy Techniques /
    по: Bhushan, Bharat
    Публикация: (2009)
  • Applied Scanning Probe Methods VIII Scanning Probe Microscopy Techniques /
    по: Bhushan, Bharat
    Публикация: (2008)
|   Расширенный поиск   |   Советы для поиска   |

Большой университет Томска
https://university-tomsk.ru/
Загрузка...