Пропуск в контексте
  • Язык
    • English
    • Русский

Расширенный поиск
  • Microscopy of Semiconducting M...
  • Цитировать
  • Печать
  • Запись для экспорта
    • Экспорт в RefWorks
    • Экспорт в EndNoteWeb
    • Экспорт в EndNote
  • Permanent link
Microscopy of Semiconducting Materials 2007

Microscopy of Semiconducting Materials 2007

Библиографическая информация
Опубликовано в: :Springer eBooks
Главный автор: Cullis, A. G.
Соавтор: SpringerLink (Online service)
Другие авторы: Midgley, P. A.
Формат: Электронная книга
Язык:English
Публикация: Dordrecht : Springer Netherlands, 2008.
Серии:Springer Proceedings in Physics,
Предметы:
electronics
Particles (Nuclear physics)
Weights and measures
Material Science
Electronics and Microelectronics, Instrumentation
Materials Science, general
Measurement Science, Instrumentation
Solid State Physics and Spectroscopy
Online-ссылка:http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8615-1
Перейти в каталог НБ ТГУ
  • Фонды
  • Описание
  • Похожие документы
  • Marc-запись

Internet

http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8615-1
Перейти в каталог НБ ТГУ

Похожие документы

  • Microscopy of Semiconducting Materials Proceedings of the 14th Conference, April 11вЂ"14, 2005, Oxford, UK /
    по: Cullis, A. G.
    Публикация: (2005)
  • Magnetism: A Synchrotron Radiation Approach
    по: Beaurepaire, Eric
    Публикация: (2006)
  • Vacuum Technology Practice for Scientific Instruments /
    по: Yoshimura, Nagamitsu
    Публикация: (2008)
  • Mid-Infrared Coherent Sources and Applications
    по: Ebrahim-Zadeh, Majid
    Публикация: (2007)
  • Beam Instrumentation and Diagnostics
    по: Strehl, Peter
    Публикация: (2006)
|   Расширенный поиск   |   Советы для поиска   |

Большой университет Томска
https://university-tomsk.ru/
Загрузка...