Изучение поверхности Si(111) методом атомно-силовой микроскопии
Published in: | Физика твердого тела : материалы VIII Российской научной студенческой конференции, 14-16 мая 2002 г. С. 88-89 |
---|---|
Main Author: | Родякина, Екатерина Евгеньевна |
Format: | Book Chapter |
Language: | Russian |
Subjects: | |
Online Access: | Перейти в каталог НБ ТГУ |
Similar Items
-
Исследование методом атомно-силовой микроскопии влияния технологических обработок на состояние поверхности GaAs (100)
by: Тюхрин, Т. С. -
Исследование поверхностного потенциала полупроводниковых структур с барьером Шоттки методом атомно-силовой микроскопии
by: Новиков, Вадим Александрович - Исследование рельефа и поверхностного потенциала эпитаксиальных пленок GaAs методом атомно-силовой микроскопии
-
Исследование углеродистой стали методами атомно-силовой микроскопии
by: Попова, Екатерина Александровна - Применение атомно-силовой микроскопии при исследовании структуры малоуглеродистой стали