Применение сканирующей туннельной микроскопии для исследования ростовых поверхностей полупроводников

Bibliographic Details
Published in:	Физика твердого тела : материалы VIII Российской научной студенческой конференции, 14-16 мая 2002 г. С. 100-101
Main Author:	Хруль, М. В.
Other Authors:	Анисимова, Любовь Леонидовна
Format:	Book Chapter
Language:	Russian
Subjects:	физика полупроводников физика диэлектриков полупроводник сканирующая туннельная микроскопия
Online Access:	Перейти в каталог НБ ТГУ


LEADER	01493naa a2200289 i 4500
001	vtls000380343
005	20220228152130.0
008	100203s2002 ru a f 100 0 rus d
035			\|a to000380343
039		9	\|y 201002031648 \|z Александр Эльверович Гилязов \|b 26
040			\|a RU-ToGU \|b rus \|c RU-ToGU
080			\|a 539.2
080			\|a 538.97
100	1		\|a Хруль, М. В. \|9 347640
245	1	0	\|a Применение сканирующей туннельной микроскопии для исследования ростовых поверхностей полупроводников \|c М. В. Хруль, Л. Л. Девятьярова
504			\|a Библиогр.: 2 назв.
653			\|a физика полупроводников
653			\|a физика диэлектриков
653			\|a полупроводник
653			\|a сканирующая туннельная микроскопия
700	1		\|a Анисимова, Любовь Леонидовна \|9 348463
773	0		\|t Физика твердого тела : материалы VIII Российской научной студенческой конференции, 14-16 мая 2002 г. \|d Томск, 2002 \|g С. 100-101 \|w 0204-47860
852	4		\|a Ru-ToGU \|n ru
856			\|y Перейти в каталог НБ ТГУ \|u https://koha.lib.tsu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=262252
908			\|a статья
942			\|2 udc
999			\|c 262252 \|d 262252

Similar Items