Применение сканирующей туннельной микроскопии для исследования ростовых поверхностей полупроводников
| Published in: | Физика твердого тела : материалы VIII Российской научной студенческой конференции, 14-16 мая 2002 г. С. 100-101 |
|---|---|
| Main Author: | |
| Other Authors: | |
| Format: | Book Chapter |
| Language: | Russian |
| Subjects: | |
| Online Access: | Перейти в каталог НБ ТГУ |