Точечные дефекты в полупроводниках экспериментальные аспекты
Main Author: | Бургуэн, Жак |
---|---|
Other Authors: | Ланно, Мишель, Гуревич, В. Л. (Editor) |
Format: | Book |
Language: | Russian |
Published: |
Москва
Мир
1985
|
Subjects: | |
Online Access: | Перейти в каталог НБ ТГУ |
Similar Items
-
Применение метода фототока p - n перехода для измерения параметров полупроводниковых материалов
by: Котина, Ирина Михайловна
Published: (1970) -
Методы определения основных параметров полупроводниковых материалов [учебное пособие для вузов по специальности "Полупроводниковые приборы"]
by: Павлов, Лев Павлович
Published: (1975) -
Влияние примесей сурьмы и теллура на электрические свойства селена [диссертация]
by: Козловский, И. Л.
Published: (1943) -
Измерения параметров полупроводниковых материалов
by: Ковтонюк, Николай Филиппович
Published: (1970) -
Введение в химию полупроводников [учебное пособие для студентов химических специальностей университетов]
by: Угай, Яков Александрович
Published: (1975)