Влияние условий осаждения LP CVD Sio2 на ЭФП МДП-структур на основе InAs
Published in: | Девятая конференция "Арсенид галлия и полупроводниковые соединения группы III-V", 3-5 октября 2006 г., Томск, Россия : материалы конференции С. 160-163 |
---|---|
Other Authors: | , , , |
Format: | Book Chapter |
Language: | Russian |
Subjects: | |
Online Access: | Перейти в каталог НБ ТГУ |
Bibliography: | Библиогр.: 5 назв. |
---|