Влияние условий осаждения LP CVD Sio2 на ЭФП МДП-структур на основе InAs
Published in: | Девятая конференция "Арсенид галлия и полупроводниковые соединения группы III-V", 3-5 октября 2006 г., Томск, Россия : материалы конференции С. 160-163 |
---|---|
Other Authors: | Девятова, Светлана Федоровна, Семенова, Л. А., Медведев, А. В., Панова, Зоя Васильевна |
Format: | Book Chapter |
Language: | Russian |
Subjects: | |
Online Access: | Перейти в каталог НБ ТГУ |
Similar Items
-
Многоэлементные фотоприемные устройства и приборы на основе МДП-структур на InAs
by: Курышев, Георгий Леонидович -
Физика МДП-структур Учебное пособие
by: Сыноров, Владимир Федорович
Published: (1989) - Электрофизические характеристики МДП-структур на основе пентацена с диэлектриком SiO2
- Определение дефектности приповерхностного слоя полупроводниковых гетероструктур на основе МЛЭ HgCdTe при измерении адмиттанса МДП-структур
- Определение спектров поверхностных состояний при значительном гистерезисе электрофизических характеристик МДП-структур на основе МЛЭ HgCdTe