Selection of the flip-flops for partial enhanced scan techniques

Selection of the flip-flops for partial enhanced scan techniques

Bibliographic Details
Published in:Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика № 2 (19). С. 112-120
Corporate Authors: Томский государственный университет Факультет прикладной математики и кибернетики Кафедра программирования, Томский государственный университет Факультет прикладной математики и кибернетики Публикации студентов и аспирантов ФПМК
Other Authors: Melnikov, A. V., Mukhamedov, R. V., Ostanin, Sergey A., Singh, Virendra, Matrosova, Anzhela Yu
Format: Article
Language:English
Subjects:
задержки путей схемы
триггеры
робастно тестируемый путь
эквивалентная нормальная форма
алгоритмы
статьи в журналах
Online Access:http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000431415
Перейти в каталог НБ ТГУ

Internet

http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000431415
Перейти в каталог НБ ТГУ

Similar Items